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    1. Na, HJ; Jeong, JK; Um, MY; Kim, BS; Hwang, CS; Kim, HJ
      Effect of annealing on electrical properties of Pt/beta-SiC contact

      SOLID-STATE ELECTRONICS
    2. Moon, DW; Ha, YH; Kim, HK; Kim, KJ; Kim, HS; Lee, JY; Kim, S
      Low sputter damage of metal single crystalline surfaces investigated with medium energy ion scattering spectroscopy

      APPLIED SURFACE SCIENCE
    3. KUWANO K; ASHOK S
      INVESTIGATION OF SPUTTERED INDIUM-TIN OXIDE SILICON INTERFACES - ION DAMAGE, HYDROGEN PASSIVATION AND LOW-TEMPERATURE ANNEAL/

      Applied surface science


ASDD Area Sistemi Dipartimentali e Documentali, Università di Bologna, Catalogo delle riviste ed altri periodici
Documento generato il 05/06/20 alle ore 00:03:11