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    1. Ye, KQ; Hamada, M; Wu, CFJ
      A step-down Lenth method for analyzing unreplicated factorial designs

      JOURNAL OF QUALITY TECHNOLOGY
    2. Ye, KQ; Hamada, M
      Critical values of the lenth method for unreplicated factorial designs

      JOURNAL OF QUALITY TECHNOLOGY


ASDD Area Sistemi Dipartimentali e Documentali, Università di Bologna, Catalogo delle riviste ed altri periodici
Documento generato il 12/08/20 alle ore 01:02:46