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La ricerca find articoli where authors phrase all words 'Schollhorn, C' sort by level,fasc_key/DESCEND, pagina_ini_num/ASCEND ha restituito 3 riferimenti
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    1. WOHL G; SCHOLLHORN C; SCHMIDT OG; BRUNNER K; EBERL K; KIENZLE O; ERNST F
      CHARACTERIZATION OF SELF-ASSEMBLED GE ISLANDS ON SI(100) BY ATOMIC-FORCE MICROSCOPY AND TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY

      Thin solid films
    2. Schollhorn, C; Oehme, M; Bauer, M; Kasper, E
      Coalescence of germanium islands on silicon

      THIN SOLID FILMS
    3. FISCHER M; NAGELE M; EICHNER D; SCHOLLHORN C; STROBEL R
      INTEGRATION OF SURFACE-MICROMACHINED POLYSILICON MIRRORS AND A STANDARD CMOS PROCESS

      Sensors and actuators. A, Physical


ASDD Area Sistemi Dipartimentali e Documentali, Università di Bologna, Catalogo delle riviste ed altri periodici
Documento generato il 20/10/20 alle ore 03:12:21