Catalogo Articoli (Spogli Riviste)

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Titolo:
Test and reliability: Partners in IC manufacturing, part 2
Autore:
Hawkins, CF; Segura, J; Soden, J; Dellin, T;
Indirizzi:
Univ Balearic Isl, Dept Phys, E-07071 Palma de Mallorca, Spain Univ Balearic Isl Palma de Mallorca Spain E-07071 lma de Mallorca, Spain Univ New Mexico, Albuquerque, NM 87131 USA Univ New Mexico Albuquerque NMUSA 87131 exico, Albuquerque, NM 87131 USA Sandia Natl Labs, Tech Staff, Livermore, CA 94550 USA Sandia Natl Labs Livermore CA USA 94550 ch Staff, Livermore, CA 94550 USA
Titolo Testata:
IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS
fascicolo: 4, volume: 16, anno: 1999,
pagine: 66 - 73
SICI:
0740-7475(199910/12)16:4<66:TARPII>2.0.ZU;2-0
Fonte:
ISI
Lingua:
ENG
Tipo documento:
Article
Natura:
Periodico
Settore Disciplinare:
Engineering, Computing & Technology
Citazioni:
12
Recensione:
Indirizzi per estratti:
Indirizzo: Segura, J Univ Balearic Isl, Dept Phys, E-07071 Palma de Mallorca, Spain Univ Balearic Isl Palma de Mallorca Spain E-07071 lorca, Spain
Citazione:
C.F. Hawkins et al., "Test and reliability: Partners in IC manufacturing, part 2", IEEE DES T, 16(4), 1999, pp. 66-73

Abstract

This article discusses the major gate oxide failure modes, reliability modeling, burn-in, and qualification testing. We present a typical method to calculate failure rates.

ASDD Area Sistemi Dipartimentali e Documentali, Università di Bologna, Catalogo delle riviste ed altri periodici
Documento generato il 31/03/20 alle ore 22:04:12