Catalogo Articoli (Spogli Riviste)

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Titolo:
Test and reliability: Partners in IC manufacturing, part 1
Autore:
Hawkins, CF; Segura, J;
Indirizzi:
Univ Balearic Isl, Dept Phys, Palma de Mallorca, Spain Univ Balearic Isl Palma de Mallorca Spain hys, Palma de Mallorca, Spain Univ New Mexico, Albuquerque, NM 87131 USA Univ New Mexico Albuquerque NMUSA 87131 exico, Albuquerque, NM 87131 USA
Titolo Testata:
IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS
fascicolo: 3, volume: 16, anno: 1999,
pagine: 64 - 71
SICI:
0740-7475(199907/09)16:3<64:TARPII>2.0.ZU;2-I
Fonte:
ISI
Lingua:
ENG
Soggetto:
ELECTROMIGRATION;
Tipo documento:
Article
Natura:
Periodico
Settore Disciplinare:
Engineering, Computing & Technology
Citazioni:
11
Recensione:
Indirizzi per estratti:
Indirizzo: Hawkins, CF Univ Balearic Isl, Dept Phys, Palma de Mallorca, Spain Univ Balearic Isl Palma de Mallorca Spain e Mallorca, Spain
Citazione:
C.F. Hawkins e J. Segura, "Test and reliability: Partners in IC manufacturing, part 1", IEEE DES T, 16(3), 1999, pp. 64-71

Abstract

This article explains the major IC reliability failure mechanisms with perspectives on their severity and relation to test.

ASDD Area Sistemi Dipartimentali e Documentali, Università di Bologna, Catalogo delle riviste ed altri periodici
Documento generato il 07/04/20 alle ore 21:57:18