Catalogo Articoli (Spogli Riviste)

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Titolo:
QUANTITATIVE-DETERMINATION OF THE DEGREE OF RELAXATION AND RESIDUAL BRACING IN STRONGLY LATTICE-DEFECT-ADJUSTED SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES USING MOIRE PATTERNS AND HRTEM
Autore:
KAISER S; ZWECK J; GEBHARDT W;
Indirizzi:
UNIV REGENSBURG,INST FESTKORPERPHYS D-93040 REGENSBURG GERMANY
Titolo Testata:
European journal of cell biology
, volume: 74, anno: 1997, supplemento:, 45
pagine: 61 - 61
SICI:
0171-9335(1997)74:<61:QOTDOR>2.0.ZU;2-3
Fonte:
ISI
Lingua:
GER
Tipo documento:
Meeting Abstract
Natura:
Periodico
Settore Disciplinare:
Science Citation Index Expanded
Citazioni:
NO
Recensione:
Indirizzi per estratti:
Citazione:
S. Kaiser et al., "QUANTITATIVE-DETERMINATION OF THE DEGREE OF RELAXATION AND RESIDUAL BRACING IN STRONGLY LATTICE-DEFECT-ADJUSTED SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES USING MOIRE PATTERNS AND HRTEM", European journal of cell biology, 74, 1997, pp. 61-61


ASDD Area Sistemi Dipartimentali e Documentali, Università di Bologna, Catalogo delle riviste ed altri periodici
Documento generato il 29/09/20 alle ore 20:18:50