Catalogo Articoli (Spogli Riviste)

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Titolo:
PROCESS-INDUCED STRAINS IN DRY-ETCHED SEMICONDUCTOR NANOSTRUCTURES STUDIED BY PHOTOREFLECTANCE
Autore:
TANG YS; WANG PD; TORRES CMS; LUNN B; ASHENFORD DE;
Indirizzi:
UNIV GLASGOW,NANOELECTR RES CTR,DEPT ELECTR & ELECT ENGN GLASGOW G12 8QQ LANARK SCOTLAND UNIV HULL,DEPT ENGN DESIGN & MANUFACTURE KINGSTON HULL HU6 7RX N HUMBERSIDE ENGLAND
Titolo Testata:
Journal of applied physics
fascicolo: 12, volume: 77, anno: 1995,
pagine: 6481 - 6484
SICI:
0021-8979(1995)77:12<6481:PSIDSN>2.0.ZU;2-5
Fonte:
ISI
Lingua:
ENG
Soggetto:
OPTICAL-PROPERTIES; GAAS; WIRES;
Tipo documento:
Article
Natura:
Periodico
Settore Disciplinare:
Science Citation Index Expanded
Citazioni:
16
Recensione:
Indirizzi per estratti:
Citazione:
Y.S. Tang et al., "PROCESS-INDUCED STRAINS IN DRY-ETCHED SEMICONDUCTOR NANOSTRUCTURES STUDIED BY PHOTOREFLECTANCE", Journal of applied physics, 77(12), 1995, pp. 6481-6484


ASDD Area Sistemi Dipartimentali e Documentali, Università di Bologna, Catalogo delle riviste ed altri periodici
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