Catalogo Articoli (Spogli Riviste)

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Titolo:
WHAT DETERMINES THE PROBING DEPTH OF ELECTRON YIELD XAS (VOL 324, PG L371, 1995)
Autore:
SCHROEDER SLM; MOGGRIDGE GD; ORMEROD RM; RAYMENT T;
Indirizzi:
UNIV CAMBRIDGE,DEPT CHEM,LENSFIELD RD CAMBRIDGE CB2 1EW ENGLAND UNIV CAMBRIDGE,DEPT CHEM CAMBRIDGE CB2 1EW ENGLAND UNIV KEELE,DEPT CHEM KEELE ST5 5BG STAFFS ENGLAND
Titolo Testata:
Surface science
fascicolo: 1-2, volume: 329, anno: 1995,
pagine: 612 - 612
SICI:
0039-6028(1995)329:1-2<612:WDTPDO>2.0.ZU;2-H
Fonte:
ISI
Lingua:
ENG
Tipo documento:
Correction, Addition
Natura:
Periodico
Settore Disciplinare:
Science Citation Index Expanded
Citazioni:
1
Recensione:
Indirizzi per estratti:
Citazione:
S.L.M. Schroeder et al., "WHAT DETERMINES THE PROBING DEPTH OF ELECTRON YIELD XAS (VOL 324, PG L371, 1995)", Surface science, 329(1-2), 1995, pp. 612-612


ASDD Area Sistemi Dipartimentali e Documentali, Università di Bologna, Catalogo delle riviste ed altri periodici
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