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Titolo:
THE USE OF PHASE-MATCHING AS THE NULL MET HOD FOR SCANNING BULK DEFORMATION FIELDS IN SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Autore:
MUSHER SL; STUPAK MF; SYSKIN VS;
Indirizzi:
RUSSIAN ACAD SCI,INST AUTOMAT & ELECTROMETRY,SIBERIAN DIV NOVOSIBIRSK630090 RUSSIA
Titolo Testata:
Kvantovaa elektronika
fascicolo: 8, volume: 23, anno: 1996,
pagine: 762 - 764
SICI:
0368-7147(1996)23:8<762:TUOPAT>2.0.ZU;2-F
Fonte:
ISI
Lingua:
RUS
Soggetto:
SILICON;
Tipo documento:
Article
Natura:
Periodico
Settore Disciplinare:
Science Citation Index Expanded
Science Citation Index Expanded
Citazioni:
4
Recensione:
Indirizzi per estratti:
Citazione:
S.L. Musher et al., "THE USE OF PHASE-MATCHING AS THE NULL MET HOD FOR SCANNING BULK DEFORMATION FIELDS IN SEMICONDUCTOR-MATERIALS", Kvantovaa elektronika, 23(8), 1996, pp. 762-764

Abstract

A high polarisation sensitivity of the phase matching in nonlinear crystals was utilised in fast scanning of bulk deformation fields in semiconductor substrates and films.

ASDD Area Sistemi Dipartimentali e Documentali, Università di Bologna, Catalogo delle riviste ed altri periodici
Documento generato il 21/09/20 alle ore 12:34:00